Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Funding sources
MZOŠ
Institution

Institut Ruđer Bošković

Bijenička cesta 54

10000

Zagreb

Hrvatska

Location

Zavod za kemiju materijala

LSNM

Zagreb

Bijenička cesta 54

X/suteren/002A

Contact

Mira Ristić

Dr.sc.

Institut Ruđer Bošković

4680 107

4680 098

Web pages
http://sestar.irb.hr/instrumenti_show.php?ID=14