AFM sustav za mikroskopiju atomskih sila (Bruker)

AFM sustav za mikroskopiju atomskih sila (Bruker)

Princip rada

Mikroskop atomskih sila (AFM) pretražuje površinu uzorka mjereći interakciju između oštrog šiljka pričvršćenog za savitljivu polugu i površine uzorka. AFM uređaj se sastoji od tri osnovna dijela: piezoelektrično pretraživalo, pretražna proba i sustav za detekciju pomaka poluge. Proba se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN3, SiO2, C-nanotube).

Karakteristike:
-oslikavanje površine uzoraka u 3D sa subnanometarskom rezolucijom (vertikalno 0,1 nm, lateralno >1nm)
-nedestruktivna metoda
-uzorak u nativnoj formi na zraku ili u tekućini
-mjerenje intra- i inter- molekulskih sila, viskoelastičnih i drugih mehanička svojstva
-pogodan za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela, abiotskih čestica u prirodnim uvjetima, razni kruti uzzorci

Funding sources
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Institution

Institut Ruđer Bošković

Bijenička cesta 54

10000

Zagreb

Hrvatska

Location

Zavod za istraživanje morai okoliša

Laboratorij za biogeokemiju mora i atmosfere

Zagreb

Bijenicka 54

III. krilo/prvi kat/221

Contact

Tea Mišić Radić (v.d. Voditelj AFM sustava)

Dr.sc.

Institut Ruđer Bošković

01 4561 128

01 4680 242

Web pages
https://sestar.irb.hr/instrumenti_show.php?ID=39

This site uses cookies.

Some of these cookies are essential, while others help us improve your experience by providing insights into how the site is being used.

For more detailed information on the cookies we use, please check our Privacy Policy.

  • Necessary cookies enable core functionality. The website cannot function properly without these cookies, and can only be disabled by changing your browser preferences.