AFM sustav za mikroskopiju atomskih sila (Bruker)

AFM sustav za mikroskopiju atomskih sila (Bruker)

Princip rada

Mikroskop atomskih sila (AFM) pretražuje površinu uzorka mjereći interakciju između oštrog šiljka pričvršćenog za savitljivu polugu i površine uzorka. AFM uređaj se sastoji od tri osnovna dijela: piezoelektrično pretraživalo, pretražna proba i sustav za detekciju pomaka poluge. Proba se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN3, SiO2, C-nanotube).

Karakteristike:
-oslikavanje površine uzoraka u 3D sa subnanometarskom rezolucijom (vertikalno 0,1 nm, lateralno >1nm)
-nedestruktivna metoda
-uzorak u nativnoj formi na zraku ili u tekućini
-mjerenje intra- i inter- molekulskih sila, viskoelastičnih i drugih mehanička svojstva
-pogodan za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela, abiotskih čestica u prirodnim uvjetima, razni kruti uzzorci

Funding sources
MZOŠ
Institution

Institut Ruđer Bošković

Bijenička cesta 54

10000

Zagreb

Hrvatska

Location

Zavod za istraživanje morai okoliša

Laboratorij za biogeokemiju mora i atmosfere

Zagreb

Bijenicka 54

III. krilo/prvi kat/221

Contact

Nadica Ivošević DeNardis (v.d. Voditelj AFM sustava)

Dr.sc.

Institut Ruđer Bošković

01 4561 128

01 4680 242

Web pages
https://sestar.irb.hr/instrumenti_show.php?ID=39