Osnovna aktivnost laboratorija je depozicija i karakterizacija tankih metalnih i poluvodičkih filmova rasprašenjem u magnetronskom izvoru čestica.
Karakterizacija deponiranih filmova se u principu vrši u suradnji sa drugim laboratorijima IRB-a i drugih institucija u zemlji i inozemstvu a uključuje:

• električna mjerenja
• strukturna mjerenja x-zrakama
• vibracionu spektroskopiju (FTIR, Raman)
• nuklearne metode (ERDA, RBS)
• mjerenja mehaničkih osobina

• dr. sc. Nikola Radić
• dr. sc. Davor Gracin
• dr. sc. Biserka Gržeta
• dr. sc. Tihomir Car
• dr. sc. Jasminka Popović
• dipl. ing. Krunoslav Juraić
• dipl. ing. Nedeljko Zorić
• Aleksa Pavlešin, tehničar

• Novi amorfni i nanostrukturirani tankoslojni materijali
• Dopirani optoelektronički i keramički nanomaterijali
• Tanki filmovi legura silicija na prijelazu iz amorfne u uređenu strukturu

• Porijeklo strukturnih defekata i njihov utjecaj na svojstva solarnog silikatnog stakla