Satnica

Naslov predavanja

Predavač/ica

8:45 – 9:00

Otvaranje radionice

Branko Pivac

9:00 – 9:20

NMR/NQR čvrstog stanja: principi i primjena u proučavanju materijala

Dalibor Paar

9:20 – 9:40

SQUID magnetometar - osjetljivost za sve materijale

Krešo Zadro

9:40 – 10:00

Napredna EPR spektroskopija u istraživanju materije: Mogućnosti na IRB-u

B. Rakvin

M. Kveder

10:00 – 10:20

Mikrovalna ispitivanja materijala

Miroslav Požek

10:20 – 10:40

Izotopni sastav laganih elemenata otkriva povijest materijala

Zvjezdana Roller

Pauza za kavu

11:00 – 11:20

ARPES - novi sjaj stare tehnike

Petar Pervan

11:20 – 11:40

FE SEM u znanosti o materijalima

Mira Ristić

11:40 – 12:00

STM – pretražna tunelirajuća mikroskopija

Marko Kralj

12:00 – 12:20

Photo-thermal deflection spectroscopy for optical characterization of thin films

Jordi Sancho-Parramon

12:20 – 12:40

Spektroskopska elipsometrija

Hrvoje Zorc

12:40 – 13:00

CRDS kao dijagnostička metoda procesa u plazmi pri gradnji nano struktura

Slobodan Milošević

Pauza za ručak

14:20 – 14:40

Dielektrična spektroskopija u fizici kondenzirane materije

Tomislav Ivek

14:40 – 15:00

Mossbauerova spektroskopija i primjene

Svetozar Musić

15:00 – 15:20

Sinkrotronska SAXS/DSC/WAXD metoda karakterizacije nanokompozitnih materijala

Aleksandra Turković

15:20 – 15:40

IBIC - metoda za 3D mikroskopiju transporta naboja u poluvodičima

Milko Jakšić

15:40 – 16:00

Spektroskopija pozitronske anihilacije u istraživanjima materijala

Damir Bosnar

Pauza za kavu

16:20 – 16:40

Laplace DLTS

Ivana Capan

16:40 – 17:00

Mapiranje recipročnog prostora metodom difrakcije X zračenja: metoda za ispitivanje nano-objekata u kristalnoj matrici.

Maja Buljan

17:00 – 17:20

TOF ERDA: Nuklearna metoda za multielementno dubinsko profiliranje

Zdravko Siketić

17:00 – 17:40

Određivanje veličine čestica laserskom difrakcijom

Neda Vdović

17:40 – 18:00

GISAXS i XRR – kada, kako, zašto?

Pavo Dubček