Princip rada
Mikroskop atomskih sila (AFM) pretražuje površinu uzorka mjereći interakciju između oštrog šiljka pričvršćenog za savitljivu polugu i površine uzorka. AFM uređaj se sastoji od tri osnovna dijela: piezoelektrično pretraživalo, pretražna proba i sustav za detekciju pomaka poluge. Proba se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN3, SiO2, C-nanotube).
Karakteristike:
-oslikavanje površine uzoraka u 3D sa subnanometarskom rezolucijom (vertikalno 0,1 nm, lateralno >1nm)
-nedestruktivna metoda
-uzorak u nativnoj formi na zraku ili u tekućini
-mjerenje intra- i inter- molekulskih sila, viskoelastičnih i drugih mehanička svojstva
-pogodan za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela, abiotskih čestica u prirodnim uvjetima, razni kruti uzzorci
General instrument information
Characteristics
Location
Terms of use
350,00 kn / satu
Cijena za ovlaštene korisnike koji samostalno pokrivaju materijalne troškove :
117,00 kn / satu
Cijena za korisnike u sustavu znanosti RH :
692,00 kn / satu + PDV
Cijena za korisnike koji nisu u sustavu znanosti
899,00 kn / satu + PDV
Dr.sc. Suzana Šegota (Suzana.Segota@irb.hr)
Dr. sc. Vida Čadež (Vida.Cadez@irb.hr)