Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Contacts

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.

Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

General instrument information

Skraćeni naziv instrumenta

FE SEM

Uža područja primjene

Kemija, Fizika, Znanost o materijalima, Farmaceutika, Stomatologija, Geologija, Minerologija

Namjena instrumenta

veličina i morfologija čestica, strukturni defekti, kemijski sastav

Popis usluga

analiza funkcionalnih i strukturnih materijala, analiza minerala i geoloških uzoraka, analiza suspendiranih čestica u zraku

Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen

Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala

Kategorija

kapitalna

Vrsta instrumenta

elektronski mikroskop

Vrsta analize

površinska analiza

Primjene

vizualizacija

Samostalan/vezan

Samostalan instrument

Procijenjeni broj korisnika

500

Tijelo koje je financiralo nabavku opreme

Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)

Vanjski link za kapitalnu opremu (sestar.irb.hr)

See on sestar.irb.hr

Characteristics

Model

Jeol, JSM 7000F

Mrežna URL adresa instrumenta na stranicama proizvođača

http://www.jeol.co.jp/en/products/list_sem.html

Proizvođač

Jeol

Mrežna URL adresa proizvođača

http://www.jeol.co.jp/en/

Radno i mjerno područje

10-500 000 x

Princip rada i mjerna tehnika

Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka.
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)

Detaljne tehničke karakteristike

Radni napon: 500 V - 20 kV
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm

Ostale tehničke karakteristike

Schottky katoda s emisijom polja elektrona
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments

Popratna i dodatna oprema

Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW)

Vijek trajanja

20 godina

Location

Zavod

Division of Materials Chemistry

Laboratorij

Laboratory for Synthesis of New Materials

Grad

Zagreb

Adresa

Bijenička cesta 54

Krilo/Kat/Soba

X/suteren/002A

Terms of use

Cjenik korištenja

Za korisnike iz IRB-a:
SEM: 130 kn / h
SEM+EDS: 177.73 kn / h

Za korisnike iz sustava znanosti:
SEM: 382,01 kn/h + PDV
SEM+EDS: 439,61 kn/h + PDV

Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
SEM: 1.217,72 kn/h + PDV
SEM+EDS: 1.468,18 kn/h + PDV

Popis ovlaštenih korisnika

Dr. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)

Upute za korisnike

Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. oksidi, metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslat

Servis uz naplatu

priprema i obrada uzorka , prema raspoloživom cjeniku

Način korištenja instrumenta

samostalni rad - ovlašteni korisnici , servis uz naplatu za sve korisnike

Tržišna prilika

Opis tržišne prilike

-analiza kemijskog sastava (EDS) i morfologije mikro- i nanometarskih čestica stabilnih spojeva
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgija

Opis usluge

FE SEM analiza i elementna analiza