Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
Contacts
Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.
Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o
General instrument information
Characteristics
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW)
Location
Terms of use
SEM: 130 kn / h
SEM+EDS: 177.73 kn / h
Za korisnike iz sustava znanosti:
SEM: 382,01 kn/h + PDV
SEM+EDS: 439,61 kn/h + PDV
Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
SEM: 1.217,72 kn/h + PDV
SEM+EDS: 1.468,18 kn/h + PDV
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Tržišna prilika
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgija