Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
Contacts
Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.
Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o
General instrument information
Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Uža područja primjene
Kemija, Fizika, Znanost o materijalima, Farmaceutika, Stomatologija, Geologija, Minerologija
Namjena instrumenta
veličina i morfologija čestica, strukturni defekti, kemijski sastav
Popis usluga
analiza funkcionalnih i strukturnih materijala, analiza minerala i geoloških uzoraka, analiza suspendiranih čestica u zraku
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
elektronski mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
vizualizacija
Samostalan/vezan
Samostalan instrument
Procijenjeni broj korisnika
500
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Vanjski link za kapitalnu opremu (sestar.irb.hr)
Characteristics
Model
Jeol, JSM 7000F
Mrežna URL adresa instrumenta na stranicama proizvođača
Proizvođač
Jeol
Mrežna URL adresa proizvođača
Radno i mjerno područje
10-500 000 x
Princip rada i mjerna tehnika
Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka.
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Detaljne tehničke karakteristike
Radni napon: 500 V - 20 kV
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm
Ostale tehničke karakteristike
Schottky katoda s emisijom polja elektrona
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Popratna i dodatna oprema
Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW)
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW)
Vijek trajanja
20 godina
Location
Zavod
Laboratorij
Grad
Zagreb
Adresa
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
X/suteren/002A
Terms of use
Cjenik korištenja
Za korisnike iz IRB-a:
SEM: 130 kn / h
SEM+EDS: 177.73 kn / h
Za korisnike iz sustava znanosti:
SEM: 382,01 kn/h + PDV
SEM+EDS: 439,61 kn/h + PDV
Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
SEM: 1.217,72 kn/h + PDV
SEM+EDS: 1.468,18 kn/h + PDV
SEM: 130 kn / h
SEM+EDS: 177.73 kn / h
Za korisnike iz sustava znanosti:
SEM: 382,01 kn/h + PDV
SEM+EDS: 439,61 kn/h + PDV
Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
SEM: 1.217,72 kn/h + PDV
SEM+EDS: 1.468,18 kn/h + PDV
Popis ovlaštenih korisnika
Dr. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Upute za korisnike
Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. oksidi, metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslat
Servis uz naplatu
priprema i obrada uzorka
, prema raspoloživom cjeniku
Način korištenja instrumenta
samostalni rad - ovlašteni korisnici
, servis uz naplatu za sve korisnike
Tržišna prilika
Opis tržišne prilike
-analiza kemijskog sastava (EDS) i morfologije mikro- i nanometarskih čestica stabilnih spojeva
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgija
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgija
Opis usluge
FE SEM analiza i elementna analiza