Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.

Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Funding sources
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Institution

Institut Ruđer Bošković

Bijenička cesta 54

10000

Zagreb

Hrvatska

Location

Zavod za kemiju materijala

LSNM

Zagreb

Bijenička cesta 54

X/suteren/002A

Contact

Mira Ristić

Dr.sc.

Institut Ruđer Bošković

4680 107

4680 098

Web pages
https://sestar.irb.hr/instrumenti_show.php?ID=14

This site uses cookies.

Some of these cookies are essential, while others help us improve your experience by providing insights into how the site is being used.

For more detailed information on the cookies we use, please check our Privacy Policy.

  • Necessary cookies enable core functionality. The website cannot function properly without these cookies, and can only be disabled by changing your browser preferences.