“Proučavanje modernih slikarskih materijala i njihove stabilnosti korištenjem MeV SIMS-a i drugih analitičkih tehnika”

“Proučavanje modernih slikarskih materijala i njihove stabilnosti korištenjem MeV SIMS-a i drugih analitičkih tehnika”
Datum početka projekta
15.10.2013.
Datum kraja projekta
15.10.2015.
Status
Završen
Kategorija projekta
Projekti Fonda "jedinstvo uz pomoć znanja"
Više informacija
MeV SIMS

U istraživanjima umjetničkih i arheoloških predmeta vrlo važnu ulogu danas imaju najsuvremenije znanstvene metode karakterizacije.  Određivanje fizičkog i kemijskog sastava slojeva boja te vezivnih i drugih materijala koji se koriste pri stvaranju umjetničkih djela važno je za datiranje umjetnina, pripisivanje autorstva te dokazivanje autentičnosti. Također, informacije koje dobijemo iz analiza važne su da bi mogli razumjeti kako će se pojedino umjetničko djelo ponašati tijekom vremena, te da se sukladno tome odaberu metode konzervacije koje će djelo sačuvati od propadanja. Velik broj dosad obavljenih istraživanja iz tog područja bavio se je uglavnom djelima nastalim prije 20. stoljeća, a tek prije desetak godina istraživanja su se fokusirala na umjetnička djela nastala u prošlom stoljeću. Tijekom prošlog stoljeća došlo je naime do snažnog industrijskog razvoja a time i do pojave raznovrsnih novih materijala, posebno sintetskih polimera, koje su umjetnici počeli odmah intenzivno koristiti u svom radu. Pošto ponašanje tih materijala, njihova interakcija s drugim materijalima kao i njihovo propadanje tijekom vremena nije poznato, važno ih je proučavati korištenjem modernih analitičkih metoda. Da bismo bolje razumjeli mehanizme propadanja pod utjecajem parametara kao što su svjetlo, vlaga ili korozija u ovom projektu planiramo ubrzano stariti te materijale. Pripremljeni uzorci biti će umjetno stareni na Akademiji likovnih umjetnosti u Beču. Nakon toga uzorci koji nisu stareni zajedno sa starenim uzorcima biti će analizirani korištenjem analitičkih tehnika na Akademiji likovnih umjetnosti u Beču i nuklearnih analitičkih metoda na Institutu Ruđer Bošković u Zagrebu. Osim tehnika koje se standardno koriste na Akademiji likovnih umjetnosti u Beču, u ovom projektu predlažemo primjenu jedne posve nove tehnike - masene spektroskopije sekundarnih iona pomoću iona MeV-skih energija (Secondary Ion Mass Spectrometry using MeV ion excitation - MeV SIMS). MeV SIMS je nuklearna analitička metoda koje je tek nedavno sagrađena na nuklearnoj mikroprobi Instituta Ruđer Bošković.  Tu tehniku trenutno u svijetu osim IRB-a koriste tek još dva laboratorija i to uglavnom za molekularnu analizu bioloških uzoraka. Tema ovog projekta je prvo sustavno proučavanje primjene MeV SIMS metode za analizu materijala koji se koriste u djelima moderne umjetnosti. Tijekom projekta će se također istražiti veliki potencijal MeV SIMS metode za mapiranje distribucija molekula s prostornim razlučivanjem boljim od mikrometra. Važno je napomenuti da će se MeV SIMS mapiranje raditi u kombinaciji s drugim već uhodanim nuklearnim analitičkim metodama kao što su česticama inducirana emisija x-zračenja (PIXE) i elastično raspršenje unatrag (RBS). Te će tehnike omogućiti da se istovremeno s molekularnim sastavom mapira i elementni sastav istraživanog uzorka. Rezultati dobiveni MeV SIMS metodom usporedit će se s rezultatima  kemijskih i fizikalnih analiza koje će se provesti na Akademiji likovnih umjetnosti u Beču.

Glavni istraživač / voditelj

Ostali suradnici

Rudjer Bošković Institute, Zagreb:

Tonči Tadić, PhD

Zdravko Siketić, PhD

Milko Jakšić, PhD

Domagoj Donny Cosic, MSc

Nikola Marković, MSc

   

Academy of Fine Arts, Vienna:

glavni istraživač Dubravka Jembrih -Simbürger, PhD

Rita Wiesinger, PhD

Marta Anghelone, MSc

Valentina Pintus, MSc

Wilfried Vetter, MSc