Akceleratorski sustav Instituta sastoji se iz dva akceleratora s pripadajućim izvorima negativnih iona:
a) 6.0 MV EN Tandem Van de Graaff akcelerator s dva ionska izvora:
- NEC SNICS sputtering ionski izvor za snopove H, Li, C, O, Si, Cl, I, Au i drugih iona.
- RF ionski izvor s izmjenom naboja (Alphatross, NEC) za H i He snopove
b) 1.0 MV Tandetron akcelerator s duoplazmatronskim ionskim izvorom za H i O snopova

Komore koje mogu koristiti ionske snopove iz bilo kojeg od akceleratora su:
1. Nuklearna mikroproba
2. Komora za nuklearne reakcije
3. PIXE spektrometar s visokim razlučivanjem
4. TOF ERDA
6. Komora za testiranje detektora i ozračavanje
7. Linija dvostrukog snopa s RBS channeling metodom

Komore koje mogu koristiti ionske snopove samo iz Tandetron akceleratora su:
1. PIXE u zraku
2. PIXE/RBS komora

General instrument information

Skraćeni naziv instrumenta
1.0 i 6.0 MV tandem akceleratori
Uža područja primjene
nuklearna i atomska fizika, analiza materijala ionskim snopovima, ozračivanje i modifikacija materijala, nuklearna mikroskopija
Popis usluga
Analize PIXE i RBS spektroskopijama
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
akcelerator
Vrsta analize
strukturna analiza
Primjene
radijacija
Vanjski link za kapitalnu opremu (sestar.irb.hr)

Location

Zavod
Laboratorij
Grad
Zagreb
Adresa
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
zgrada VDG akceleratora

This site uses cookies.

Some of these cookies are essential, while others help us improve your experience by providing insights into how the site is being used.

For more detailed information on the cookies we use, please check our Privacy Policy.

  • Necessary cookies enable core functionality. The website cannot function properly without these cookies, and can only be disabled by changing your browser preferences.