Pretražni elektronski mikroskop

  • Analiza veličine i distribucije veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova
  • Optička rezolucija 1,2 nm
  • Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
  • Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
  • Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
  • Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
  • Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
  • Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 stupnjeva
Upute za korisnike

Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslati e-mail

Cjenik korištenja

Cijena je izražena po satu rada mikroskopa.

  SEM usluga                    SEM + EDS (elementna analiza)
     
ZA IRB korisnike: 130 Kn 177,73 Kn
     
Za korisnike iz sustava znanosti RH izvan IRB-a: 382,01 kn + PDV 439,61 + PDV
     
Za korisnike iz IRB-a koji imaju naručitelja
izvan sustava znanosti:
852,40 kn 1.027,73 kn
     
Za korisnike koji nisu u sustavu znanosti: 1.217,72 kn + PDV  1.468,18 kn + PDV
     
ZAHTJEV ZA KORIŠTENJE USLUGE
Ovlašteni korisnici

Dr. Mira Ristić (ristic@irb.hr)
Dr. Marijan Gotić (gotic@irb.hr)
Dr. Goran Štefanić (stefanic@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Mark Žic (mzic@irb.hr)