Nova metoda za dubinsko profiliranje tankih filmova s dubinskom razlučivošću od svega 2 nm

U znanstvenom radu objavljenom u časopisu Scientific Reports, izdavača Nature Publishing Group, eksperimentalni fizičari s Instituta Ruđer Bošković (IRB) dr. sc. Zdravko Siketić, dr. sc. Iva Bogdanović Radović,  Ivan Sudić i akademik Milko Jakšić predstavili su novu metodu za kvantitativno dubinsko profiliranje materijala, koja se temelji na kombinaciji već dobro poznate tehnike TOF-ERDA i rasprašivanja pomoću iona argona energija nekoliko keV-a.

irb-pr-logo
Pitanja ili komentari?

Ime i prezime *


E-mail *


Komentar *


Ova stranica koristi kolačiće

Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.