Prijeđite na glavni sadržaj

Princip rada Mikroskop atomskih sila (AFM) pretražuje površinu uzorka mjereći interakciju između oštrog šiljka pričvršćenog za savitljivu polugu i površine uzorka. AFM uređaj se sastoji od tri osnovna dijela: piezoelektrično pretraživalo, pretražna proba i sustav za detekciju pomaka poluge. Proba se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN3, SiO2, C-nanotube). Karakteristike: -oslikavanje površine uzoraka u 3D sa subnanometarskom rezolucijom (vertikalno 0,1 nm, lateralno >1nm) -nedestruktivna metoda -uzorak u nativnoj formi na zraku ili u tekućini -mjerenje intra- i inter- molekulskih sila, viskoelastičnih i drugih mehanička svojstva -pogodan za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela, abiotskih čestica u prirodnim uvjetima, razni kruti uzzorci

Opći podaci o instrumentu

Skraćeni naziv instrumenta
AFM
Inventarni broj
0032683
Kategorija
kapitalna (>1.000.000 kn)
Vrsta instrumenta
mikroskop
Vrsta analize
strukturna analiza
Primjene
vizualizacija
Samostalan/vezan
samostalan
Stanje opreme
funkcionalan, ali zastario
Discipline
Biologija , Fizika , Geofizika , Kemija
Godina proizvodnje
2004
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja Republike Hrvatske
Vanjski link za kapitalnu opremu

Karakteristike

Proizvođač
Bruker
Prenosivost
Ne
Rad na daljinu
Ne

Lokacija

Adresa
Bijenicka 54
Krilo/Kat/Soba
III. krilo/prvi kat/221

Ova stranica koristi kolačiće. Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva. Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

Prilagodi postavke
  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.