1. Institut Ruđer Bošković
  2. Istraživanja
  3. Kapitalna oprema
  4. Pretražni elektronski mikroskop...

Pretražni elektronski mikroskop JEOL JSM-7000F

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta. Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su: -Optička rezolucija 1,2 nm -Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka -Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski -Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu -Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku -Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima -Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Opći podaci o instrumentu

Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Kategorija
kapitalna, odnosno velika (>400.000 EUR)
Primjene
vizualizacija
Samostalan/vezan
samostalan
Stanje opreme
potpuno funkcionalan
Discipline
Fizika , Geofizika , Kemija
Godina proizvodnje
2005
Datum nabave
28.06.2005
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti, obrazovanja i mladih Republike Hrvatske
Vanjski link za kapitalnu opremu
Vidi na croris.hr

Karakteristike

Model
Jeol, JSM 7000F
Proizvođač
Jeol
Radno i mjerno područje
10-500 000 x
Princip rada i mjerna tehnika
Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka. Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Detaljne tehničke karakteristike
Radni napon: 500 V - 20 kV Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa Minimalna radna udaljenost: 4 mm Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm;Schottky katoda s emisijom polja elektrona Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV Optička rezolucija 3 nm /5 kV Detektor sekundarnih elektrona (SEI) Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI) Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Popratna i dodatna oprema
Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682 Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030 Freeze Dryer LL1500 HETO UPS (10 kW) Dizelski agregat (12 kW)
Nabavna cijena
5000000 HRK
Prenosivost
Ne
Rad na daljinu
Ne

Lokacija

Adresa
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
X/suteren/002A