• Kvantitativno dubinsko profiliranje svih elemenata u uzorcima (uključujući i izotope vodika).
  • Analiza površinskih slojeva uzoraka (npr. tankih filmova) maksimalne debljine do 500 nm, s površinskom dubinskom razlučivosti od 5 nm.
  • Metodom se mogu razlučiti svi izotopi do mase 40 amu, s granicom detekcije od 0.1 atomskih postotaka.
  • Za analizu se koriste teški ioni (Cl, I, Au..) energija do 40 MeV.

 

Rezultati analize

Energija i vrijeme proleta izbijenih iona mjere se istovremeno, što omogućuje odvajanje svih elemenata prema energiji i masi. Tipična 2D mapa (mjerena energija i vrijeme proleta u koincidenciji), snimljena pomoću sustava za skupljanje podataka  SPECTORv2, nalazi se na Slici 1. Spektar pojedinog elementa/izotopa  može se odvojiti i analizirati pomoću pripadnih programa (Slika 2) da bi se dobio atomski udio i dubinski profil tog elementa/izotopa u uzorku.

Slika 1: ToF-ERDA 2D mapa, uzorak: LSCO film deponiranom na MgO podlozi

Slika 2: Dubinski profili pojedinih elemenata u LSCO filmu deponiranom na MgO podlozi, mjerenja su napravljena korištenjem 23 MeV I6+

Upute za korisnike (izgled uzoraka za analizu):

Uzorci tankih filmova, površinske hrapavosti manje od 10 nm. Veličina uzorka je limitirana je na 10×10 mm2. Za upite o ToF-ERDA analizi i cijene molimo poslati e-mail na zdravko.siketic@irb.hr

Korisne informacije:

ToF-ERDA tehnika

Rezervacija vremena za provođenje mjerenja i analize

Kontakt osobe

Ova stranica koristi kolačiće

neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.