Prijeđite na glavni sadržaj

Obrazovanje

12.2017.-12.2018. poslijedoktorsko usavršavanje, X-ray Fluorescence beamline (XRF), Elettra Sincrotrone Trieste, Trst, Italija

2015. dr. sc. Prirodoslnovno-matematički fakultet Sveučilšta u Zagrebu, Fizički odsjek

2007. dipl. ing. fizike Prirodoslovno-matematički fakultet Sveučilišta u Zagrebu, Fizički odsjek       

Područja znanosti

Publikacije - prilozi u časopisima

Izvorni znanstveni rad

Publikacije - prilozi sa skupa (u časopisu)

Sažetak izlaganja sa skupa

Publikacije - prilozi sa skupa (neobjavljeni)

Neobjavljeni prilog sa skupa

Publikacije - ocjenski radovi

Diplomski rad (sveučilišni)

ZNANSTVENI INTERESI

Analize ionskim snopovima, česticama inducirana emisija rendgenskoga zračenja (Particle Induced X-ray Emission - PIXE), visokorazlučiva PIXE spektroskopija (High resolution PIXE – HR PIXE), kemijska specijacija, analize ionskim snopovima na ionskoj mikroprobi, mikro-X-ray Fluorescence (mikro-XRF) mapiranja, multivarijatna analiza spektralnih slika