Prijeđite na glavni sadržaj

dr. sc. Ivana Capan

Voditelj laboratorija viši znanstveni suradnik
Interni broj
1312
1272
Adresa

Institut Ruđer Bošković
Bijenička 54
HR-10000 Zagreb

Projekti

e-SiCure

e-SiCure 2

Publikacije

Knjige i poglavlja u knjigama

Poglavlja u knjigama

  • Pivac, B., Kovačević, I. & Borjanović, V. (2001) Point defects in carbon rich poly-Si. U: Bonnaud, O., Mohammed-Brahim, T., Strunk, H. & Werner, J. (ur.) Polycrystalline Semiconductors IV - Bulk Materials, Thin Films, and Devices. Uettikon am See, Scitech Publications, str. 115-120.

Radovi u časopisima

Znanstveni i pregledni radovi

Radovi u zbornicima skupova

Znanstveni radovi u zbornicima skupova

  • Radulović, V., Ambrožič, K., Snoj, L., Capan, I., Brodar, T., Ereš, Z., Pastuović, Ž., Sarbutt, A., Ohshima, T., Yamazaki, Y. & Coutinho, J. (2020) E-SiCure Collaboration Project: Silicon Carbide Material Studies and Detector Prototype Testing at the JSI TRIGA Reactor. U: Lyoussi, A., Giot, M., Carette, M., Jenčič, I., Reynard-Carette, C., Vermeeren, L., Snoj, L. & Le Dû, P. (ur.)ANIMMA 2019 – Advancements in Nuclear Instrumentation Measurement Methods and their Applications doi:10.1051/epjconf/202022507007.

    doiwww.epj-conferences.org
  • Capan, I., Brodar, T., Ohshima, T., Sato, S., Makino, T., Pastuovic, Ž., Siegele, R., Snoj, L., Radulović, V., Coutinho, J., Torres, V. & Demmouche, K. (2018) Deep Level Defects in 4H-SiC Epitaxial Layers. U: ICSCRM 2017 - The 2017 International Conference on Silicon Carbide and Related Materials doi:10.4028/www.scientific.net/msf.924.225.

    doi
  • Knežević, T., Nanver, L., Capan, I. & Suligoj, T. (2018) Non-linear behavior of Al-contacted pure amorphous boron (PureB) devices at low temperatures. U: Biljanovic, P. (ur.)Proceedings of the 41st International Convention MIPRO 2018 doi:10.23919/mipro.2018.8399822.

    doi
  • Capan, I., Buljan, M., Mišićc-Radic, T., Pivac, B., Radić, N., Grenzer, J., Holy, V., Levichev, S. & Bernstorff, S. (2010) Electrical Characterization of Ge Nanocrystals in Oxide Matrix. U: MRS Online Proceedings Library doi:10.1557/opl.2011.298.

    doi
  • Capan, I., Pivac, B., Duguay, S., Slaoui, A., Dubček, P. & Bernstorff, S. (2007) Structural properties of Ge nanocrystals embeded in SiO2. U: Biljanović, P. & Skala, K. (ur.)Proceedings MIPRO 2007.

  • Pivac, B., Kovačević, I., Dubček, P., Radić, N., Bernstorff, S., Vlahović, B. & Zulim, I. (2005) Study of Ge islands on Si (100) substrates. U: Palz, W., Ossenbrink, H. & Helm, P. (ur.)Proceedings of 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference.

  • Pivac, B., Kovačević, I. & Zulim, I. (2004) Effects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films. U: Bal, J., Silvestrini, G., Grassi, A., Palz, W., Vigotti, R., Gamberale, M. & Helm, P. (ur.)Proceedings of 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference.

  • Pivac, B., Kovačević, I. & Zulim, I. (2004) Effects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films. U: J.-L.Bal, G.Silvestrini, A.Grassi, W. Palz, R. Vigotti, M. Gamberale, P. Helm (ur.)19th European Photovoltaic Solar Energy Conference, 7-11 June 2004, Palais des Congres, Paris, France.

  • Pivac, B., Kovačević, I., Zulim, I. & Gradišnik, V. (2000) Effects Of Light Soaking On Amorphous Silicon. U: Rohatgi, A. (ur.)Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference.

Ocjenski radovi

Magistarski radovi

Ova stranica koristi kolačiće

neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.