Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.

Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Sredstva nabave
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Institucija

Institut Ruđer Bošković

Bijenička cesta 54

10000

Zagreb

Hrvatska

Lokacija

Zavod za kemiju materijala

LSNM

Zagreb

Bijenička cesta 54

X/suteren/002A

Kontakt

Mira Ristić

Dr.sc.

Institut Ruđer Bošković

4680 107

4680 098

Web stranice
https://sestar.irb.hr/instrumenti_show.php?ID=14

Ova stranica koristi kolačiće

Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.