Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.

Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Opći podaci o instrumentu

Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Uža područja primjene
Kemija, Fizika, Znanost o materijalima, Farmaceutika, Stomatologija, Geologija, Minerologija
Namjena instrumenta
veličina i morfologija čestica, strukturni defekti, kemijski sastav
Popis usluga
analiza funkcionalnih i strukturnih materijala, analiza minerala i geoloških uzoraka, analiza suspendiranih čestica u zraku
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
elektronski mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
vizualizacija
Samostalan/vezan
Samostalan instrument
Procijenjeni broj korisnika
500
Vanjski link za kapitalnu opremu (sestar.irb.hr)

Karakteristike

Model
Jeol, JSM 7000F
Mrežna URL adresa instrumenta na stranicama proizvođača
Proizvođač
Jeol
Mrežna URL adresa proizvođača
Radno i mjerno područje
10-500 000 x
Princip rada i mjerna tehnika
Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka.
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Detaljne tehničke karakteristike
Radni napon: 500 V - 20 kV
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm
Ostale tehničke karakteristike
Schottky katoda s emisijom polja elektrona
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Popratna i dodatna oprema
Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW)
Vijek trajanja
20 godina

Lokacija

Zavod
Laboratorij
Grad
Zagreb
Adresa
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
X/suteren/002A

Uvjeti korištenja

Cjenik korištenja
Za korisnike iz IRB-a:

Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 130 Kn / h
Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 177.73 Kn / h

Za korisnike iz sustava znanosti:
Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 382,01 Kn/h + PDV
Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 439,61 Kn/h + PDV

Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 1.217,72 kn/h + PDV
Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 1.468,18 Kn/h + PDV
Popis ovlaštenih korisnika
Dr. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Dr. Marijan Gotić (gotic@irb.hr)
Dr. Goran Štefanić (stefanic@irb.hr)
Upute za korisnike
Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. oksidi, metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslat

Tržišna prilika

Opis tržišne prilike
-analiza kemijskog sastava (EDS) i morfologije mikro- i nanometarskih čestica stabilnih spojeva
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgija
Opis usluge
FE SEM analiza i elementna analiza

Ova stranica koristi kolačiće

neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.