Prijeđite na glavni sadržaj
Kategorija
Projekti Hrvatske zaklade za znanost
Iznos financiranja
196.944
EUR
Datum početka
15.12.2023.
Datum završetka
14.12.2027.
Status
Aktivan
Više informacija

Glavni istraživač

Cilj istraživačkog projekta SHIILAOM je proučavanje formiranja ionskih tragova u amorfnim materijalima. Utjecaj ove vrste iona na materijal često dovodi do oštećenja koje se naziva ionski trag. Na površini materijala, ovi se tragovi mogu promatrati mikroskopijom atomske sile (AFM) i raspršivanjem rendgenskih zraka pod malim kutom (GISAXS), dok se ispod površine ovi objekti nano-dimenzija mogu istraživati pomoću transmisijske elektronske mikroskopije (TEM). Osim toga, simulacije molekularne dinamike (MD) su moćan računalni alat koji istraživačima pomaže razumjeti procese koji dovode do stvaranja ionskog traga.