Cilj istraživačkog projekta SHIILAOM je proučavanje formiranja ionskih tragova u amorfnim materijalima. Utjecaj ove vrste iona na materijal često dovodi do oštećenja koje se naziva ionski trag. Na površini materijala, ovi se tragovi mogu promatrati mikroskopijom atomske sile (AFM) i raspršivanjem rendgenskih zraka pod malim kutom (GISAXS), dok se ispod površine ovi objekti nano-dimenzija mogu istraživati pomoću transmisijske elektronske mikroskopije (TEM). Osim toga, simulacije molekularne dinamike (MD) su moćan računalni alat koji istraživačima pomaže razumjeti procese koji dovode do stvaranja ionskog traga.