Uređaj: FE-SEM JEOL JSM-7000F

Opis uređaja

• Elektronski top sa Schottky-evom emisijom (emisija elektrona potpomognuta električnim poljem i zagrijavanjem izvora)
• Detektori sekundarnih (SE) i povratno raspršenih (BSE) elektrona
• Detektor karakterističnoga rendgenskog zračenja (energijski razlučujuća rendgenska spektrometrija, EDS)

Svojstva uređaja

• Radni napon: 0,5 do 30 kV
• Radna struja: 1 pA - 200 nA
• Rezolucija: 1.2nm pri 30 kV, 1.5 nm pri 15 kV, 3.0 nm pri 1 kV
• Povećanje: 10 do 500.000 puta

Mogućnosti uređaja

• Analiza veličine i distribucije veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova
• Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
• Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
• Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
• Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
• Pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, nagib uzorka u rasponu od -5 do +35 stupnjeva, rotacija uzorka u rasponu od 0 do 360 stupnjeva

Upute za korisnike

Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.) i ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente.  

Upite o FE SEM/EDS analizi i terminima dostupnosti molimo poslati na marijan.marcius@irb.hr.

Cjenik korištenja

Cijena je izražena po satu rada mikroskopa.

Voditelj instrumenta

Ovlašteni korisnici

Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. sc. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. sc. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Dr. sc. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Dr. sc. Andreas Puškarić (Andreas.Puskaric@irb.hr)
Dr. sc. Lidija Androš Dubraja (Lidija.Andros@irb.hr)
Dr. sc. Tatjana Antonić Jelić (Tatjana.Antonic-Jelic@irb.hr)

Kontakt

Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)