Analiza materijala pretražnim elektronskim mikroskopom
Kategorija
- Usluge raznih namjena
Uređaj: FE-SEM JEOL JSM-7000F
Opis uređaja
- Elektronski top sa Schottky-evom emisijom (emisija elektrona potpomognuta električnim poljem i zagrijavanjem izvora)
- Detektori sekundarnih (SE) i povratno raspršenih (BSE) elektrona
- Detektor karakterističnoga rendgenskog zračenja (energijski razlučujuća rendgenska spektrometrija, EDS)
Svojstva uređaja
- Radni napon: 0,5 do 30 kV
- Radna struja: 1 pA - 200 nA
- Rezolucija: 1.2nm pri 30 kV, 1.5 nm pri 15 kV, 3.0 nm pri 1 kV
- Povećanje: 10 do 500.000 puta
Mogućnosti uređaja
- Analiza veličine i distribucije veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova
- Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
- Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
- Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
- Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
- Pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, nagib uzorka u rasponu od -5 do +35 stupnjeva, rotacija uzorka u rasponu od 0 do 360 stupnjeva
Upute za korisnike
Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.) i ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente.
Upite o FE SEM/EDS analizi i terminima dostupnosti molimo poslati na marijan.marcius@irb.hr.
Cjenik korištenja
Cijena je izražena po satu rada mikroskopa.
SEM usluga |
SEM + EDS (elementna analiza) |
|
Za IRB korisnike: |
11,95 EUR |
18,58 EUR |
Za IRB korisnike koji imaju naručitelje izvan sustava znanosti: |
28,67 EUR |
35,30 EUR |
Za korisnike iz sustava znanosti RH izvan IRB-a: |
40,88 EUR + PDV |
50,43 EUR + PDV |
Za korisnike koji nisu u sustavu znanosti: |
151,83 EUR + PDV |
161,39 EUR + PDV |
Voditelj instrumenta
Ovlašteni korisnici
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. sc. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. sc. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Dr. sc. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Dr. sc. Andreas Puškarić (Andreas.Puskaric@irb.hr)
Dr. sc. Lidija Androš Dubraja (Lidija.Andros@irb.hr)
Dr. sc. Tatjana Antonić Jelić (Tatjana.Antonic-Jelic@irb.hr)
Kontakt
Dr. sc. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)