Pretražni elektronski mikroskop

  • Analiza veličine i distribucije veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova
  • Optička rezolucija 1,2 nm
  • Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
  • Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
  • Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
  • Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
  • Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
  • Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 stupnjeva
Upute za korisnike

Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslati e-mail

Cjenik korištenja

Cijena je izražena po satu rada mikroskopa.

  SEM usluga                    SEM + EDS (elementna analiza)
     
ZA IRB korisnike: 130 Kn 177,73 Kn
     
Za korisnike iz sustava znanosti RH izvan IRB-a: 382,01 kn + PDV 439,61 + PDV
     
Za korisnike iz IRB-a koji imaju naručitelja
izvan sustava znanosti:
852,40 kn 1.027,73 kn
     
Za korisnike koji nisu u sustavu znanosti: 1.217,72 kn + PDV  1.468,18 kn + PDV
     
ZAHTJEV ZA KORIŠTENJE USLUGE
Ovlašteni korisnici

Dr. Marijan Gotić (gotic@irb.hr)
Dr. Goran Štefanić (stefanic@irb.hr)

Ova stranica koristi kolačiće

Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva.

Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.